目的:观察放射线照射对Filtek Z350纳米树脂和FX-Ⅱ加强型玻璃离子水门汀充填治疗龋损牙对边缘微渗漏的影响。 方法:40颗离体前磨牙随机分为4组,每组10颗,分别为放射线照射A1组和A2组,对照B1组和B2组。40颗离体牙均在颊侧面备洞,A1、B1组样本牙使用Filtek Z350纳米树脂充填窝洞,A2、B2组样本牙使用FX-Ⅱ加强型玻璃离子水门汀充填。A1和A2组样本牙每天进行一次放射线照射,每次2.0Gy,累计总照射剂量为70Gy;B1和B2组样本牙不做放射线照射。4组样本经500次冷热循环后,使用2.0%亚甲基蓝溶液染色,体式显微镜下测量每组样本牙的微渗漏值。 结果:使用相同充填材料,放射线照射组与对照组微渗漏值比较,差异无统计学意义（P>0.05）。不论是否放射线照射,不同充填材料微渗漏值比较,差异均无统计学意义（P>0.05）。 结论:临床上对于准备实施放射治疗的头颈部肿瘤患者,选择Filtek Z350纳米树脂和FX-Ⅱ加强型玻璃离子水门汀充填治疗龋损牙,均能获得较稳定的边缘密封效果。